鹽為全球最常見化合物之一。海洋，大氣，陸地表面，湖泊，河流中都可以找到鹽。所以不能讓東西避免接觸鹽霧。鹽霧環(huán)境影響電工，電子產品僅次于溫度，振動，濕熱和沙塵環(huán)境。

金屬腐蝕為自發(fā)氧化過程。在鹽霧環(huán)境中，由于鹽霧液體是電解液，會增加金屬中形成微電池的幾率，加速電化學腐蝕進程，導致金屬或涂層被腐蝕生銹和起泡，造成構件和緊固件被腐蝕損壞，機械部件和組件活動部位被堵塞或黏結在一起，導致動部件被堵塞和失效，微細導線和印刷線路板被打開或者短路，元件腿被折斷。同時鹽溶液導電性能大幅度降低絕緣體表面及體積電阻，鹽霧腐蝕物及鹽溶液干燥結晶(鹽粒)之間電阻將高于原金屬，將增大該處電阻及電壓降、影響觸電動作、使產品電性能受到嚴重影響。所以，電工電子產品鹽霧試驗是檢驗產品抗腐蝕性能的重要手段。

鹽霧試驗是為了評價產品或金屬材料耐鹽霧腐蝕的質量，鹽霧試驗結果的確定是評價產品質量的最重要因素，其確定結果的正確性和合理性是正確測量產品或涂層耐鹽霧腐蝕性能的關鍵。實驗結果包括起泡，生銹，附著力下降，以及從劃痕處向周圍擴散腐蝕。

鹽霧試驗包括中性鹽霧試驗(NSS),醋酸鹽霧試驗(AASS),銅加速醋酸鹽霧試驗又稱為氯化銅醋酸鹽霧(CASS)3種，其中以中性鹽霧試驗最為廣泛。中性鹽霧試驗（CLS）主要應用于金屬材料和金屬上金屬鍍層或者非金屬無機鍍層以及涂覆系統的測試。相反地，醋酸鹽霧及銅加醋酸鹽霧通常僅用于檢查金屬鍍層而不是有機覆層。